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精密離子減薄儀
產品簡介
| 品牌 | 其他品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電氣,綜合 |
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀用于高質量透射電鏡樣品的制備，它可精確定位減薄位置并對工藝參數(shù)進行準確控制。
PIPS Ⅱ 精密離子減薄儀設備特點：
使用 X、Y 樣品臺來把減薄區(qū)域精確定位到離子束交叉點
改進低電壓性能的離子槍，有用電壓低至 100 伏，從而快速安全地對 FIB 制備的TEM樣品進行拋光
利用 DigitalMicrograph 軟件和光學數(shù)碼顯微鏡進行圖像存儲和分析
10 英寸彩色觸摸屏可用于顯示和控制所有 PIPS II 參數(shù)
公司深耕國內科研市場近十年，以中科院等專業(yè)院所背景的技術力量為依托， 為國內各大科研機構及材料研究客戶提供科研儀器設備和專業(yè)技術服務。公司以代理國內外材料化工方向的儀器設備為核心業(yè)務，產品覆蓋材料制備、表征、光、熱、 電、磁等研究領域。
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